- 深圳市科圳威电子有限公司
11年
波长254nm光强度测量
测量范围：199.9μW/cm2，1.999mW/cm2，19.99 mW/cm2
度：± 2%
微处理电路提供高测量，亦提供特殊的功能和特色
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电路 |
单一大型微处理集成电路. |
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显示器 |
液晶显示器,字高13mm. |
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传感器光谱反应 |
中心波长254nm |
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测量范围 |
199.9μW/cm2×0.1μW/cm2 1.999mW/cm2×0.001 mW/cm2 19.99 mW/cm2×0.01 mW/cm2 |
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线性 |
±1% |
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传感器 |
紫外线光滤镜及传感器 |
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记忆纪录 |
纪录/测量值 |
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归零调整 |
采按键式归零调整 |
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取样时间 |
约0.4秒 |
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自动关机 |
未使用任何按钮,十分钟后自动关机 |
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数据输出 |
RS-232计算机数据输出 |
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过载指示 |
显示"－－－－" |
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工作温湿度 |
温度0℃～50℃.湿度需低于80% |
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006P9伏特电池一只.建议使用高容量电池 |
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消耗电流 |
约直流5.3mA |
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重量 |
355公克/0.77磅(含电池) |
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外观尺寸 |
主机:180*72*32mm.传感器直径38mm*高25mm |
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标准附件 |
说明书***1本.传感器***1只.携带盒***1只 |
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